1. Machine learning in VLSI computer-aided design /
پدیدآورنده: editors, Abrahim (Abe) M. Elfadel, Duane S. Boning and Xin Li.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer-aided design.,Machine learning.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer-aided design.,Machine learning.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.
رده :
TK7874
.
75
2. System-on-chip test architecture
پدیدآورنده: / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Systems on a chip--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Design
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
S978
,
2008eb
3. System-on-chip test architectures
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
4. System-on-chip test architectures :
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
5. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
6. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
7. VLSI:
پدیدآورنده: edited by Ricardo Reis, Luc Claesen.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Computer science.,Information storage and retrieval systems.
رده :
TK7874
.
75
E358
1997
8. VLSI design and test for systems dependability /
پدیدآورنده: Shojiro Asai, editor.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.
رده :
TK7874
